一种高保真、高性价比的功率器件单粒子烧毁的测试方法

本发明属于辐射效应测试技术领域，尤其涉及一种针对功率器件单粒子烧毁(Single Event Burnout，SEB)现象的高保真、高性价比测试方法，该方法基于非破坏性实验原理，采用子母两套测试系统的方案，实验依托非破坏性功率器件单粒子烧毁测试系统逐个器件开展重复测试，解决了真实自然条件下开展单粒子烧毁实验需要大量人力、时间、经济成本的问题；解决了基于非破坏性测试系统开展单粒子烧毁实验的所得结果的可信问题，具备高保真、高性价比的特点，获得的研究结果可有效提升为硅基功率器件在特高压直流输电、新能源汽车、航空航天等领域的可靠性和经济性。