검색으로 돌아가기
기록
芯片的失效定位方法、装置、设备、可读存储介质和产品
발명유효
6조회수
10청구항 · 5 독립항
§ Ⅰ
개요
출원인
中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
발명자
李潮; 高汭; 邝贤军; 林晓玲; 韦覃如
IPC 분류
G01R 31/28 (2006.01)
本申请涉及一种芯片的失效定位方法、装置、设备、可读存储介质和产品。包括：获取失效芯片中失效电路对应的失效等效电路，以及，获取有效芯片中参考电路对应的参考等效电路；其中，有效芯片与失效芯片的类型相同；失效电路在失效芯片中的位置，与参考电路在有效芯片中的位置相同；根据第一反射波形、第二反射波形、第三反射波形和第四反射波形，确定失效芯片的目标失效数据；其中，第一反射波形为失效芯片的太赫兹反射波形；第二反射波形为参考等效电路的太赫兹反射波形；第三反射波形为失效等效电路的太赫兹反射波形；第四反射波形为有效芯片的太赫兹反射波形；根据目标失效数据，对失效芯片进行失效定位。能够提高芯片失效定位准确度。