一种屏蔽层环路阻抗及搭接阻抗测试校准装置

本发明涉及屏蔽层阻抗测试领域，具体涉及一种屏蔽层环路阻抗及搭接阻抗测试校准装置。屏蔽层环路阻抗测试校准装置包括：顶层阻焊层、顶层铜箔层、介质层、底层铜箔层以及底层阻焊层，顶层铜箔层与底层铜箔层通过多个过孔连接，并形成并联结构，校准装置左右两侧阻抗设置区域分别设置有多个贴片电阻，顶层铜箔层与底层铜箔层为半圆分割结构，通过贴片电阻焊锡相连，屏蔽层环路阻抗由铜箔层阻抗、焊接阻抗以及贴片阻抗组成，先计算铜箔层阻抗，再获取焊接阻抗，根据目标环路阻抗以及对应的环路电流，确定贴片阻抗，最后获得精确阻抗度数。本发明适用于屏蔽层阻抗测试。