一种基于介质损耗和电容量的CVT老化寿命预测方法、装置、终端设备及存储介质

本发明公开了一种基于介质损耗和电容量的CVT老化寿命预测方法、装置、终端设备及存储介质，属于电力试验领域，所述方法为：获取待测电容式电压互感器的介质损耗数据和电容量，代入温度场与电场耦合方程进行求解，获得温度场分布；根据介质损耗数据，确定介质损耗梯度。进而确定物理约束；根据介质损耗数据和电容量，计算老化状态预测概率分布；在物理约束下，根据预设的混合遗传粒子群优化算法，对老化状态预测概率分布进行求解，获得最优参数；基于最优参数，结合预设的证据数据，获得寿命置信区间，并根据寿命置信区间确定待测电容式电压互感器的老化寿命，因此，通过实施本发明，能够解决电容式电压互感器的老化寿命预测准确率低的问题。