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一种样品盘的布局检测方法、装置及设备

발명유효
3조회수
10청구항 · 3 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

张满; 陈子充; 王侃磊; 吕吉鑫; 谢迪

IPC 분류

G06T 7/00 (2017.01)G06T 7/73 (2017.01)G06V 10/40 (2022.01)G06V 10/77 (2022.01)G06V 10/764 (2022.01)G06V 10/24 (2022.01)G06V 10/80 (2022.01)G06V 10/762 (2022.01)

本申请提供一种样品盘的布局检测方法、装置及设备,该方法包括:基于已获取的样品盘图像确定样品瓶位置和空闲孔位位置;确定与样品盘图像对应的矩阵模板,矩阵模板包括M*N个位置点;对样品瓶位置和空闲孔位位置的列坐标进行聚类得到M个列中心坐标,对样品瓶位置和空闲孔位位置的行坐标进行聚类得到N个行中心坐标,M个列中心坐标和N个行中心坐标组成M*N个位置点;与样品瓶位置匹配的位置点的预测类别是占据类别,与空闲孔位位置匹配的位置点的预测类别是空闲类别;基于矩阵模板中各位置点的预测类别确定样品盘布局,样品盘布局包括样品盘的M*N个孔位分别对应的孔位类型。通过本申请的技术方案,能够实现对样品盘布局的精确判断。