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存储器及操作方法

발명유효
6조회수
10청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ

개요

IPC 분류

G11C 16/26 (2006.01)G11C 16/04 (2006.01)

本申请公开了一种存储器及操作方法,该存储器包括存储单元、温度检测电路以及校验参数调整电路,校验参数调整电路与温度检测电路连接,通过检测存储器的工作温度,根据工作温度生成用于调整存储单元的阈值电压的校验参数,来增加读电压与阈值电压和/或校验电压之间的差值,从而提高了读操作的裕量,避免了在对应工作温度下的读出错误,进而提高了存储器的工作可靠性。