검색으로 돌아가기
기록
电容刻蚀方法
발명유효
6조회수
10청구항 · 1 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
董曼飞; 高明校; 史小平
IPC 분류
H10B 12/00 (2023.01)H10D 1/60 (2025.01)
本发明提供了一种电容刻蚀方法,涉及半导体加工技术领域,以解决电容孔刻蚀精度不高的问题。电容刻蚀方法包括:硬掩模层沉积,在基底上沉积第一硬掩模层,第一硬掩模层为钨碳基硬掩模层;光刻图案化,在第一硬掩模层上形成预设图案;硬掩模层刻蚀,图案传递至第一硬掩模层;电容器刻蚀,刻蚀基底,以形成电容孔。其可以提高对电容孔的刻蚀精度。