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堆叠电容、半导体器件及堆叠电容的制备方法

발명유효
3조회수
10청구항 · 3 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

刘效森; 杨国山; 安彭; 柴国星; 刘洲彤; 周亦康; 董秋立

IPC 분류

H10D 1/68 (2025.01)H10D 1/00 (2025.01)H10W 44/00 (2026.01)

本申请提供一种堆叠电容、半导体器件及堆叠电容的制备方法。堆叠电容包括基层介电层以及位于基层介电层一侧的电容主体,电容主体包括导电层及间隔介电层。在第一方向上,多层导电层包括依序交替的第一子导电层和第二子导电层。堆叠电容具有沿第二方向排布的第一连接区、导电层叠区及第二连接区。第一子导电层的第一平直部位于第一连接区内,第一子导电层的第二平直部位于导电层叠区内。第二子导电层的第一平直部位于第二连接区内,第二子导电层的第二平直部位于导电层叠区内。各导电层的第二平直部远离第一平直部的一端包括过渡段,自第一平直部指向第二平直部的方向,过渡段远离基层介电层的表面与基层介电层之间的距离逐渐减小。