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기록
一种孔壁含氧化硅的硅片及加工方法与设备
발명유효
7조회수
10청구항 · 3 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
谢万活
IPC 분류
H10F 77/70 (2025.01)H10F 77/14 (2025.01)H10F 77/30 (2025.01)H10F 71/00 (2025.01)H10D 62/10 (2025.01)H10D 62/57 (2025.01)H10W 74/43 (2026.01)
本发明公开了一种孔壁含氧化硅的硅片及加工方法与设备,孔壁含氧化硅的硅片包括硅材料基片、预制孔及氧化层,其中:硅材料基片为单晶硅;预制孔开设于硅材料基片上,孔径或边长20‑500μm;氧化层覆盖于预制孔的孔壁表面,主要成分包含氧化硅,10‑500nm厚度的氧化硅氧化层,可在孔壁形成有效绝缘或防护屏障,且≤50nm的表面粗糙度能减少流体传输阻力或电荷积累,适配精密应用场景。氧化层为疏松结构或致密结构。预制孔洞结构由激光加工方法直接形成,且未经过清洗或后处理工艺;疏松结构适用于吸附、过滤等需高比表面积的场景,致密结构则能提供更优的绝缘、耐腐蚀性能,满足不同应用对孔壁功能的差异化需求,拓宽产品适用范围。