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기록
热压治具、芯片封装体分区加热封装系统及封装方法
발명유효
10청구항 · 3 독립항
§ Ⅰ
개요
발명자
罗永德; 何志丹; 焦洁
IPC 분류
H10W 74/01 (2026.01)H10W 72/30 (2026.01)H10P 95/90 (2026.01)H10P 74/00 (2026.01)
本公开实施例提供一种热压治具、芯片封装体分区加热封装系统及封装方法,该热压治具包括第一加热压板和第二加热压板,第一加热压板和所述第二加热压板之间夹设有芯片封装体;其中,第一加热压板和第二加热压板均包括升温区和降温区,以实现对芯片封装体的分区控温。采用热压治具对FCBGA芯片封装体进行加压加热时,升温区与粘结胶层相对应,升温区对粘结胶层进行加热以使粘结胶层固化,进而将散热盖固定于基板;降温区与芯片区域相对应,降温区对芯片区域进行降温,使得芯片区域处于非加热状态,降低了芯片区域尤其是芯片中心及边缘由于高温发生翘曲的可能,从而降低了由于产品翘曲造成的热界面材料层覆盖率下降的现象。