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基板处理方法、半导体装置的制造方法、程序产品以及基板处理装置

발명알 수 없음
20청구항 · 4 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

加我友纪直

출원일

Jan 14, 2026

공개일

Oct 16, 2026

IPC 분류

C23C 16/02 (2006.01)H10P 14/00 (2026.01)H10P 72/00 (2026.01)H10P 70/00 (2026.01)C23C 16/44 (2006.01)C23C 16/14 (2006.01)C23C 16/12 (2006.01)C23C 16/18 (2006.01)

本发明提供一种基板处理方法、半导体装置的制造方法、程序产品以及基板处理装置,能够控制容易蚀刻的部位和难以蚀刻的部位。本发明的基板处理方法具有:工序a,一边向配置在表面形成有凹部的基板的第一空间内供给调节气体,一边使所述第一空间内的压力成为第一压力;工序b,在工序a之后,向所述第一空间内供给蚀刻气体,在作为工序b中的至少一部分期间的低压期间,使所述第一空间内的压力小于所述第一压力。