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显示屏漏光检测方法、装置、计算机设备以及存储介质
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§ Ⅰ
개요
IPC 분류
G01M 11/02 (2006.01)G09G 3/00 (2006.01)
本发明涉及显示屏质量检测的技术领域。具体涉及一种显示屏漏光检测方法、装置、计算机设备以及存储介质,其方法包括基于光照图像,通过图像统计模型,自动分析光照图像中的亮度波动和空间分布规律,识别待检显示屏中存在漏光区域,生成漏光区域候选图像,对漏光区域候选图像进行亮度优化,得到亮度优化后的图像,在亮度优化后的图像上,应用灰度变换的边界识别算法,得到漏光区域边界图,根据漏光区域边界图,确认漏光缺陷的位置,并计算漏光区域的面积,得到漏光缺陷的范围信息,基于漏光缺陷的范围信息,分析漏光区域的形态特征,并结合待检显示屏的整体结构特征,生成漏光缺陷标记图像。本发明具有提高漏光检测的精度效果。