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一种用于锂电薄膜毛刺检测的闭环自动对焦方法及系统

발명알 수 없음
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§ Ⅰ

개요

발명자

曹国平; 李文鑫; 杨旭东; 朱非甲

출원일

Sep 14, 2026

공개일

Oct 16, 2026

IPC 분류

G01N 21/01 (2006.01)G01N 21/95 (2006.01)

本发明属于锂电薄膜毛刺检测技术领域,具体涉及一种用于锂电薄膜毛刺检测的闭环自动对焦方法及系统。该发明,通过候选位置确定以及后续连续图像清晰度校验机制,不直接将首次出现的清晰度峰值作为最终焦点,进一步判断峰值后是否存在更高响应,提高自动对焦可靠性,无需预先固定焦点位置,而是根据当前检测区域实时获取图像清晰度信息并完成焦点搜索,因此能够适应不同设备装配误差、不同材料厚度变化以及维护调整后的焦距变化,提高锂电薄膜毛刺检测设备在不同生产条件下的适用能力,无需改变现有毛刺检测硬件结构,可直接集成至现有锂电薄膜、极片或隔膜视觉检测设备中,提高设备智能化水平。