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기록

一种OLED屏幕瑕疵全域快速检测方法及系统

발명알 수 없음
9청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

周章聪; 胡鹰

출원일

Aug 31, 2026

공개일

Oct 16, 2026

IPC 분류

G01N 21/88 (2006.01)G01M 11/02 (2006.01)B07C 5/342 (2006.01)

本发明公开了一种OLED屏幕瑕疵全域快速检测方法及系统,涉及OLED屏幕瑕疵检测技术领域,检测时OLED屏体传输至检测工位后,联动屏幕点亮模组按预设灰阶时序切换显示画面,同步匹配多光谱光源参数,对屏体平面区与曲面弯折区无盲区曝光,采集不同灰阶不同光谱通道的原始图像集;对原始图像进行标准化预处理,完成像素级配准与光照校正,得到坐标统一、光照均匀的标准化图像集;将标准化图像输入轻量化瑕疵检测模型,采用分块并行推理识别瑕疵,合并跨块瑕疵结果得到初步检测结果。本发明可实现OLED屏体全域无盲区瑕疵检测,解决了曲面区光晕遮挡导致的漏检问题,检测速度匹配高节拍产线运行需求,无需降低产能或增设缓存工位。

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