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一种铜扁线表面漆膜质量检测工艺

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§ Ⅰ

개요

발명자

顾正韡; 范先华; 姚国良; 李回劲; 李威

출원일

Jul 7, 2026

공개일

Oct 16, 2026

IPC 분류

G01N 33/208 (2019.01)G01N 1/34 (2006.01)B08B 3/04 (2006.01)B08B 1/14 (2024.01)B08B 1/20 (2024.01)

本发明提供一种铜扁线表面漆膜质量检测工艺,包括以下步骤:S1、铜扁线表面清洁,通过清洁机构对铜扁线表面进行清洁,去除表面附着物,避免杂质影响铜扁线的检测结果;S2、位置调节及张紧,用于对经清洁后的铜扁线进行张紧和定位,使铜扁线在检测工位保持张紧状态;S3、表面漆膜质量检测,将定位张紧后的铜扁线送入检测区域,通过多组检测探头对铜扁线表面漆膜质量进行检测。它能提升漆膜检测质量,避免因杂质及位置误差导致检测结果不准确。