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一种可进行通电性能校验的电子产品测试装置
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§ Ⅰ
개요
IPC 분류
G01R 31/00 (2006.01)G01R 1/04 (2006.01)G01R 1/02 (2006.01)
本发明公开了一种可进行通电性能校验的电子产品测试装置,属于电子产品测试技术领域,其包括测试台、控制主机、测试机构以及测试点调节组件;所述控制主机装配于测试台一侧,控制主机内部集成通电校验模块;所述测试机构安装于测试点调节组件上,本发明中,通过可回转支撑柱和可竖向滑动支撑杆,可灵活调节测试机构的位置与下压高度,下压后通过齿牙啮合、摩擦齿配合实现双重锁止,避免测试探针偏移,保证点位对准精度,限定架上多组带复位弹簧的限位压头,接触产品的压头受压收缩,未接触的压头伸出抵靠产品边缘,对电子产品形成限位约束,防止测试过程产品窜动,有效提升通电校验的测试稳定性。