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一种功率半导体器件故障诊断方法

발명알 수 없음
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§ Ⅰ

개요

발명자

黄昌民; 赵秋森; 陈洪宁; 余炳春

출원일

Aug 18, 2026

공개일

Oct 16, 2026

IPC 분류

G01R 31/26 (2020.01)G01D 21/02 (2006.01)G06F 18/211 (2023.01)G06F 18/213 (2023.01)G06F 18/24 (2023.01)

本发明属于电力电子设备状态监测技术领域,具体涉及一种功率半导体器件故障诊断方法,包括以下步骤:获取功率半导体器件在至少一个开关周期内的电参数和温度参数;对所述电参数进行开关事件定位,并提取导通特征、关断特征和开通特征;根据温度参数对各特征进行温度补偿,形成待诊断特征向量;将待诊断特征向量与对应工况下的健康基准特征向量进行比较,获得特征残差;根据不同特征残差之间的关联关系确定故障类型及故障位置,并根据连续多个诊断周期的诊断结果计算故障置信度;当故障置信度达到预设条件时,输出故障诊断结果。本发明能够降低负载变化和结温变化对诊断结果的影响,实现功率半导体器件早期故障的在线识别。