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一种用于电源管理芯片健康度评价的方法
발명알 수 없음
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§ Ⅰ
개요
발명자
陈文康; 王维思; 蔡超健; 吴一宽
출원일
May 29, 2026
공개일
Oct 16, 2026
IPC 분류
G01R 31/28 (2006.01)G06F 17/10 (2006.01)G06F 17/16 (2006.01)
本发明提出一种用于电源管理芯片健康度评价的方法,用于量化评估芯片经环境应力作用后的本征健康状态。本发明搭建多维度评价指标体系,结合行业可靠性标准开展环境应力试验以加速性能退化并采集测试数据;通过信息贡献率筛选有效指标,并利用反熵权法进行客观赋权;采用指数衰减Z‑score模型实现指标数据的标准化非线性评分,结合加权模型得到综合健康度得分;再通过分位数法自适应划分健康等级。本方案解决了现有技术评价维度单一、判定主观性强、无法精细表征退化程度的问题,评价结果客观可靠,适用于电源管理芯片的可靠性评估与动态管理。