一种光量子芯片测量不确定度评定方法

本发明公开了一种光量子芯片测量不确定度评定方法，具体涉及光量子芯片测量技术领域，用于解决现有光量子芯片测量过程中校准状态迁移导致样本归属不明，进而影响量子过程重建及测量不确定度评定的问题。通过在目标量子线路执行过程中穿插执行状态锚定线路，基于前后锚定响应识别状态迁移区间，结合区间样本的控制状态上下文判定样本对左右候选状态的继承关系，并对主导归属未决样本进行控制状态上下文复现、状态守卫测量及判别性补测，从而达到在光量子芯片校准状态发生迁移时准确确定测量样本校准状态归属、避免状态归属不明的样本被错误用于量子过程重建和测量不确定度评定的效果。