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牙根尖定位仪短路检测方法、牙根尖定位仪及存储介质

발명알 수 없음
11청구항 · 3 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

潘劲君; 张洪铖; 王宏灿; 王从权; 荆涛

출원일

Aug 21, 2026

공개일

Oct 16, 2026

IPC 분류

G01R 31/52 (2020.01)A61C 5/44 (2017.01)G01V 3/02 (2006.01)G01B 7/00 (2006.01)

本申请属于牙科医疗器械技术领域,涉及一种牙根尖定位仪短路检测方法、牙根尖定位仪及存储介质。本申请提供的牙根尖定位仪短路检测方法包括:获取测量回路的电学响应参数,所述测量回路经由口腔组织建立在根管锉电极与唇勾电极之间;基于所述电学响应参数,判断所述测量回路是否存在表征金属修复体形成异常短路的干扰特征;当存在所述干扰特征时,生成金属干扰提示信号。本申请能够识别金属修复体造成的短路干扰并及时提示,防止将外部金属短路误判为根尖信号,有效提高根管测量的准确性和治疗安全性。