一种电流传感器芯片线性度测试中的自适应步长多点采样方法

本发明公开了一种电流传感器芯片线性度测试中的自适应步长多点采样方法，包括以下步骤：S1、构建包括上位机以及与上位机分别相连的程控电流源和数据采集单元在内的测试系统等步骤。本发明通过初始粗扫阶段获取全量程范围内各区间段的斜率分布，以斜率偏离均值的程度作为判定非线性区间的依据，实现了对特性曲线局部非线性区域的自动识别与定位，避免了盲目均匀采样导致的非线性区域采样不足或线性区域采样冗余的问题。