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一种脑机接口封装方法及脑机接口

발명알 수 없음
10청구항 · 3 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

孙明; 范世洁

출원일

Jul 29, 2026

공개일

Oct 16, 2026

IPC 분류

G06F 3/01 (2006.01)

本发明属于脑机接口技术领域,尤其是一种脑机接口封装方法及脑机接口,包括提供外壳组件,所述外壳组件包括上盖和下盖;将电子元器件装入所述上盖与所述下盖围合形成的腔体内;提供热焊工装,所述热焊工装包括上环和下环,沿所述下环轴心处掏空形成环孔,以在预热后使热量集中在所述下环的侧面环部;将所述下盖置于所述下环的侧面环部上,使热量集中传递至所述下盖的接合面处;将所述上环盖合于所述上盖上并向其施加压力,对所述上盖与所述下盖的接合面进行热焊接合,使所述上盖与所述下盖密封连接。本发明通过将侧边加热工装或分腔分步焊接,有效控制腔体温升,避免电池受热损伤,实现高密度电极密封引出。