时序检查方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品

本申请涉及一种时序检查方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品。所述方法包括：获取数据传输模型；数据传输模型用于表征从主控芯片内部控制器到外设芯片的数据传输路径；根据数据传输模型，获得数据传输路径的时序数据；其中，时序数据包括主控芯片的内部延迟，以及至少包括主控芯片与外设芯片之间的外部路径延迟、以及外设芯片的内部延迟中的一种或多种；基于时序数据进行时序检查，得到时序检查结果。本申请通过构建数据传输模型检查时序，提高芯片量产的可靠性。