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一种容性设备的带电校正方法、装置、介质及设备

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§ Ⅰ

개요

발명자

邹德旭; 洪志湖; 王山; 闵青云; 胡锦; 孙灏若; 严敬义; 杨泽文; 赵汉武

출원일

Jul 20, 2026

공개일

Oct 16, 2026

IPC 분류

G06F 18/10 (2023.01)G06F 18/22 (2023.01)G06F 17/15 (2006.01)

本发明公开了一种容性设备的带电校正方法、装置、介质及设备,属于校正领域。本申请首先获取被测容性设备的末屏接地电流信号及母线参考电压信号,并构建多频域动态模型,再将多频域动态模型与容性设备等效电路模型集成为耦合系统仿真模型;然后以实测信号为目标,对耦合系统仿真模型中基波电流和基波电压的初始相位与幅值进行迭代优化,当仿真输出与实测信号的误差满足预设条件后,得到经传感器多频相频特性补偿后的基波电压相位、基波电流相位及对应幅值,最后根据补偿后的基波相位差计算校正后的介质损耗因数,并根据补偿后的基波幅值计算校正后的电容量。本申请有效解决了现有技术无法准确高效地对容性设备进行带电校正的问题。