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一种兼容光面与点阵图案PAD的PMI针痕复判方法、装置及系统

발명알 수 없음
10청구항 · 3 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

徐展菲; 苏广峰; 周友

출원일

Sep 11, 2026

공개일

Oct 16, 2026

IPC 분류

G06T 7/00 (2017.01)H10P 74/20 (2026.01)H10P 74/00 (2026.01)G06T 1/00 (2006.01)G06V 10/25 (2022.01)G06V 10/75 (2022.01)G06V 10/74 (2022.01)G06V 10/96 (2022.01)

本申请公开了一种兼容光面与点阵图案PAD的PMI针痕复判方法、装置及系统。本申请属于晶圆检测技术领域。该方法包括:获取待解析PMI源图片,并对待解析PMI源图片进行图像预处理;区分待解析PMI源图片中晶圆PAD的类型;若为光面PAD,则定位光面PAD区域;若为点阵矩阵图案PAD,则调用预存的点阵PAD模板,通过模板匹配检索得到点阵图案PAD区域;识别阴影缺陷,计算阴影缺陷距离PAD各边框的距离参数;基于距离参数与预设距离阈值确定针痕复判结果;当复判结果为异常时,向主机发送暂停指令以控制Prober设备暂停作业,并输出并推送复判提示及图片比对结果。本申请可同时适配光面PAD与点阵矩阵图案PAD的针痕复判,解决点阵纹理干扰造成的PAD定位偏差、复判误判问题。

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