具有自动拉出功能的DDR基板内存模块测试装置

本发明涉及一种具有自动拉出功能的DDR基板内存模块测试装置，包括：槽本体，与测试装置本体结合；驱动部，被配置为向上拉出插入槽中的DDR基板，驱动部可根据用户输入或驱动信号进行操作。驱动部可配置为推杆、跷跷板杆、连接杆和拉出连杆通过铰链结构联动，跷跷板杆在推杆的按压下转动，连接杆随跷跷板杆的转动而移动，拉出连杆随连接杆的移动而移动。连接杆的末端与拉出连杆的凹槽结合以使连接杆的移动传递至拉出连杆。与拉出连杆结合的第1拉出杆和第2拉出杆随拉出连杆的移动上升。因此，第1拉出杆和第2拉出杆可按压DDR基板两侧的支撑台阶部以将基板从槽中拉出。此外，拉出连杆与回位弹簧结合，以在拉出操作后自动返回原位。