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一种高速光模块测试系统及方法

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§ Ⅰ

개요

발명자

顾共恩; 陈彬; 高睿成

출원일

Aug 5, 2026

공개일

Oct 16, 2026

IPC 분류

H04B 10/073 (2013.01)

本发明公开了一种高速光模块测试系统及方法,该系统包括模块接口板测试组和信号控制板测试组;模块接口板测试组包括通过板对板连接器相连的第一和第二模块接口板;第一模块接口板上设有第一测试差分信号输入组,第二模块接口板上设有第一测试差分信号输出组、射频连接器测试差分信号输入组及输出组;信号控制板测试组包括通过板对板连接器相连的第一和第二信号控制板;第一信号控制板上设有射频连接器测试差分信号输入组和输出组以及第二测试差分信号输入组,第二信号控制板上设有第二测试信号输出标准射频接口;各信号输入组与信号输出组及标准射频接口被配置为与测试仪器连接,以获取不同传输路径的损耗。本发明能够实现多重损耗全面测试。