芯片验证分析方法、装置、电子设备及计算机存储介质

本公开提供了一种芯片验证分析方法、装置、电子设备及计算机存储介质，属于芯片验证技术领域。芯片验证分析方法包括：获取报文属性集合，以及所述报文属性集合在芯片验证过程中对应的预期出现参数，其中，所述报文属性集合包括至少一个报文属性；在芯片验证过程中，获取所述报文属性集合的实际出现次数；根据所述预期出现参数与所述报文属性集合的实际出现次数，生成分析报告。本公开提供的方案可以实现芯片验证中各类特征报文的自动化量化校验，并且无需为各类报文单独编写覆盖率模型代码，也无需人工逐行核查验证日志、逐类统计覆盖率数据，进而可以提升芯片验证分析的执行效率与结果准确度，保障芯片验证的全面性与可靠性。