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一种半导体器件及其制造方法

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§ Ⅰ

개요

발명자

黄信斌; 王佳林

출원일

Apr 7, 2025

공개일

Oct 16, 2026

IPC 분류

H10D 1/43 (2025.01)H10D 1/40 (2025.01)H10W 44/00 (2026.01)

一种半导体器件及其制造方法,该制造方法包括:提供半导体衬底;在半导体衬底上形成牺牲材料层;图形化牺牲材料层,以在牺牲材料层中形成凹槽;仅在凹槽的侧壁上形成导电层。从而便于制备出高阻值且线宽较窄的导电层,有利于缩小导电层占用的面积。