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一种半导体器件及其制造方法
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§ Ⅰ
개요
IPC 분류
H10D 1/43 (2025.01)H10D 1/40 (2025.01)H10W 44/00 (2026.01)
一种半导体器件及其制造方法,该制造方法包括:提供半导体衬底;在半导体衬底上形成牺牲材料层;图形化牺牲材料层,以在牺牲材料层中形成凹槽;仅在凹槽的侧壁上形成导电层。从而便于制备出高阻值且线宽较窄的导电层,有利于缩小导电层占用的面积。