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一种具有EGGE结构的IGBT结构及工艺制造方法
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§ Ⅰ
개요
발명자
赵凯; 陈科研
출원일
Aug 13, 2025
공개일
Oct 16, 2026
IPC 분류
H10D 12/00 (2025.01)H10D 12/01 (2025.01)H10D 62/17 (2025.01)
本发明涉及IGBT技术领域,公开了一种具有EGGE结构的IGBT结构,包括沟槽栅极IGBT,所述沟槽栅极IGBT包括半导体衬底、安装在半导体衬底上漂移区内的两个FLP层、设置在两个FLP层之间的两个发射极沟槽与两个栅极沟槽,两个所述栅极沟槽位于两个发射极沟槽之间;本发明通过在两个发射极沟槽之间至少设置两个栅极沟槽,增加栅极占用率,提升输入电容Cies,实现降低噪声影响的问题,并提升ESD(静电放电)耐受性;通过沟道层一和沟道层二的浮空设置,进一步增加少数载流子效果,进而降低集电极‑发射极电压Vce(sat)。