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기록

静电放电保护设备

발명알 수 없음
14청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

A·阿尔诺; I·M·L·萨瓦里穆图

출원일

Apr 9, 2026

공개일

Oct 16, 2026

IPC 분류

H10D 89/60 (2025.01)

本公开提供了静电放电保护设备。示例静电放电保护设备依次具有:P型掺杂的半导体基板;N型掺杂的第一半导体层,在半导体基板的顶面上并且与半导体基板的顶面接触;用硼原子掺杂的第二半导体层,在第一半导体层上并且与第一半导体层接触,第二半导体层具有大于或等于10原子/cm的硼原子浓度;以及N型掺杂的第三半导体层,在第二半导体层的顶面上,第一半导体层比第三半导体层掺杂得更重,该设备还包括延伸穿过第一、第二和第三半导体层并开口到半导体基板中的隔离沟槽,在第三半导体层中,在隔离沟槽之间限定至少一个阱。

§ Ⅵ

특허 도면

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