测试探针和测试装置

揭示一种用于测试待测物的电气特性的测试探针。测试探针包括圆柱形筒；柱塞，包括部分地插入筒的第一端部的颈部部分，以及从颈部部分沿径向方向延伸并在其顶部表面上具有顶端以与待测物接触的头部部分；以及由绝缘材料制成并包括形成有容纳颈部部分的颈孔且直径小于筒的宽度的颈部容纳部分的绝缘体。