一种用于基因测序芯片的温敏嵌段共聚物涂层及其制备方法

本发明涉及芯片涂层技术领域，提供了一种用于基因测序芯片的温敏嵌段共聚物涂层及其制备方法。涂层设置于基因测序芯片基底的反应区域表面，为POEGMA‑b‑PGMA嵌段共聚物。POEGMA嵌段具有温敏性，在低于LCST时呈舒展构象，在高于LCST时呈塌缩构象；PGMA嵌段提供环氧基官能团用于共价固定DNA探针。本发明首次将POEGMA的温敏构象变化与NGS测序流程进行时序匹配设计：低温舒展构象实现高密度DNA固定，高温塌缩构象形成物理屏蔽层抑制非特异性吸附。POEGMA在塌缩构象下仍保持优异抗污性能，克服了PNIPAM加剧非特异性吸附的缺陷。本发明具有高灵敏度、高准确性、可重复使用和温度可调控等优点，在基因测序领域具有广阔的应用前景。