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基于自为基准的斜孔位姿标定方法及装置、设备、介质

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§ Ⅰ

개요

발명자

张吉银; 陈林; 刘家旭; 艾乘宇

출원일

Jul 17, 2026

공개일

Oct 20, 2026

IPC 분류

G01B 11/26 (2006.01)G01B 11/00 (2006.01)G01B 21/00 (2006.01)G01B 21/22 (2006.01)G01B 21/04 (2006.01)G06T 17/00 (2006.01)G06T 7/60 (2017.01)

本发明应用于标准测量技术领域,公开了一种基于自为基准的斜孔位姿标定方法及装置、设备、介质。该方法包括:基于预设的待测量零件构建临时坐标系;待测量零件开设有沿周向均布的若干个斜孔;在临时坐标系中获取各斜孔的出口中心点的中心坐标和各斜孔对应的方向向量;基于各中心坐标和各方向向量确定目标斜孔以及待测量零件对应的自为基准公共轴线;基于自为基准公共轴线建立目标坐标系;基于目标坐标系获取待测量零件对应的成组斜孔位姿标准。这样,不会受到尺寸磨损、圆度失准、形位公差超差等问题造成的坐标系误差,进而提升了成组斜孔空间位姿测量的准确度与一致性,从而实现了单个零件的成组斜孔位姿标准的准确获取。

§ Ⅵ

특허 도면

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