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一种物理约束主动热成像缺陷测深方法

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10청구항 · 1 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

王洪金; 孟献才; 高梓恒; 聂泽西

출원일

Sep 17, 2026

공개일

Oct 20, 2026

IPC 분류

G01N 25/72 (2006.01)G06T 7/00 (2017.01)G06T 7/50 (2017.01)

本发明提供一种物理约束主动热成像缺陷测深方法,属于复合材料无损检测技术领域,可显著缓解或解决现有热成像测深方法在非均匀热激励、有限厚度边界、曲面成像畸变和材料热物性差异条件下适应性不足,依赖大规模标注数据的问题,本发明采集待检测复合材料表面的时空温度场数据,基于缺陷掩模和无缺陷背景区域训练物理信息神经网络,获得背景激励温度场,并差分得到缺陷温度场;由背景激励温度场反演输入热流,构建多候选深度缺陷温度场库,对其进行有限厚度频域修正,并在曲面结构下进行曲面网格校正;输出缺陷深度、位置和尺寸。本发明提高了非均匀激励和复杂结构条件下缺陷测深的准确性和鲁棒性,无需对标注数据集的依赖。