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기록

一种埋阻测试方法以及PCB板

발명알 수 없음
10청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

刘大椿; 孙改霞; 彭刚; 肖璐; 张勇; 陈振宇; 李桢; 黄深博

출원일

Aug 28, 2026

공개일

Oct 20, 2026

IPC 분류

G01R 27/02 (2006.01)H05K 3/46 (2006.01)H05K 1/02 (2006.01)

本申请公开了一种埋阻测试方法以及PCB板,包括以下步骤:在埋阻子板表面制作埋阻测试条;将第一增层叠放于所述埋阻子板并压合形成母板;在所述第一增层与所述埋阻测试条的对应位置加工出测试槽;将电阻测试工具的检测端插入至所述测试槽内并与所述埋阻测试条接触,以测量出电阻值;将N层第二增层依次叠放于所述母板并压合,并在N层所述第二增层与所述测试槽的对应位置均设置空槽;待第N层所述第二增层压合完成后,将所述电阻测试工具的检测端穿过所述空槽插入至所述测试槽内,并与所述埋阻测试条接触,以测量出电阻值。本方法能够实现在任意流程后通过电阻测试工具快速测量埋阻测试条的电阻值,并在有异常时及时并提前报废处理。

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