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基于介电各向异性的绝缘径向与轴向缺陷无损检测方法
발명알 수 없음
25조회수
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§ Ⅰ
개요
발명자
龙震泽; 陈凌; 涂彦明; 杨玥坪; 刘凡; 张榆; 刘睿; 冯运; 王振宇; 李晴皓
출원일
Sep 16, 2026
공개일
Oct 20, 2026
IPC 분류
G01R 31/12 (2020.01)G01R 27/26 (2006.01)G01R 27/02 (2006.01)G01R 27/14 (2006.01)
本发明涉及一种基于介电各向异性的绝缘径向与轴向缺陷无损检测方法,属于绝缘介质缺陷检测技术领域。该方法向待测绝缘系统施加宽频电场激励,采集不同频率下的介电响应数据;根据开裂缺陷相对于电场方向的空间取向,将缺陷等效为气隙、与气隙串联的完好固体介质及与二者并联的其余完好介质,并构建包含无损极化等效电容、绝缘电阻和多个电阻—电容串联支路的扩展德拜模型;通过参数辨识获得模型等效参数和弛豫时间常数,提取高频区实部电容、弛豫峰频率、峰值及时间常数等介电各向异性特征,并与轴向、径向开裂模型匹配,判定缺陷方向。本发明可在不破坏绝缘结构的条件下区分轴向开裂缺陷与径向开裂缺陷,提高复合绝缘设备缺陷诊断准确性。