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기록

基于多通道并行扫描的线束快速导通测试方法及系统

발명알 수 없음
10청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

刘宇晗; 吴华林

출원일

Jul 31, 2026

공개일

Oct 20, 2026

IPC 분류

G01R 31/54 (2020.01)G01R 31/58 (2020.01)G01R 27/02 (2006.01)

本申请公开了一种基于多通道并行扫描的线束快速导通测试方法及系统,涉及电路故障预测技术领域,该方法包括:获取当前测试周期内扫描的多个线束测试回路的阻值测试数据;基于阻值测试数据,计算得到各线束测试回路的阻值偏差量以及各继电器单元的阻值贡献权重,基于阻值偏差量,计算得到误差归因系数,基于误差归因系数、阻值偏差量以及阻值贡献权重,迭代更新各继电器单元的接触电阻增量向量;根据接触电阻增量向量和线束测试回路的继电器拓扑路径,构建设备阻值叠加量;基于阻值测试数据以及设备阻值叠加量,生成补偿后的测试结果。本申请达到了生成准确的导通测试结果的技术效果。

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