用于在对技术系统的调节的框架中检查调节值的方法、计算机程序、激光测距仪和计算机可读的存储介质

本发明涉及一种用于在对技术系统（1）的调节的框架中检查调节值的方法（100），所述方法包括下述步骤：‑通过所述技术系统（1）的第一部件提供（101）所述调节值，‑通过所述第一部件基于所述调节值计算（102）第一校验和，‑将所述调节值和所述第一校验和传输（103）给所述技术系统（1）的第二部件，‑通过所述第二部件基于所传输的调节值计算（104）第二校验和，‑通过所述第二部件基于所述第一校验和与所述第二校验和的比较来检查（105）所述调节值。此外，本发明涉及一种为此目的的激光测距仪、计算机程序以及存储介质。