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继电保护装置的采样校准方法、系统、设备及存储介质
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§ Ⅰ
개요
출원인
上海正泰自动化软件系统有限公司; 北京和信瑞通电力技术股份有限公司; 正泰电气股份有限公司
발명자
赵成虎; 孙增献; 徐骏
출원일
Sep 17, 2026
공개일
Oct 20, 2026
IPC 분류
H02H 3/00 (2006.01)G01R 35/00 (2006.01)H03M 1/10 (2006.01)G06F 17/14 (2006.01)
本申请公开了一种继电保护装置的采样校准方法、系统、设备及存储介质,属于电气保护技术领域,该采样校准方法包括:响应于校准指令,通过继电保护装置的采样通道接收外接标准源输入的特征量基准值;通过采样通道获取继电保护装置的采样数据,并基于采样数据确定采样特征量;基于特征量基准值和采样特征量,确定采样通道的矢量校准系数;利用矢量校准系数对采样特征量执行校准。该方法可根据标准输入和实际采样结果自动获得适配于当前采样通道的矢量校准系数,并同时对幅值和角度进行校准,降低硬件离散性对遥测结果的影响。
§ Ⅵ
특허 도면
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