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存储阵列、静态随机存储器、半导体封装结构及电子设备

발명알 수 없음
40조회수
18청구항 · 4 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

张强; 张肖涵; 何超; 赵春松; 许俊豪

출원일

Apr 9, 2025

공개일

Oct 20, 2026

IPC 분류

H10B 10/00 (2023.01)H10D 89/60 (2025.01)H10W 74/10 (2026.01)H10W 20/43 (2026.01)G11C 11/34 (2006.01)G11C 11/402 (2006.01)G11C 11/4097 (2006.01)G11C 11/56 (2006.01)

本申请公开了一种存储阵列、静态随机存储器、半导体封装结构及电子设备,涉及半导体技术领域,存储阵列包括多个存储单元、多条第一位线和多条第二位线,存储单元中的FET的沟道的漏电通道沿第一方向延伸,第一位线和第二位线沿第二方向延伸。沿第二方向排布的多个存储单元中,每个第一访问FET的沟道与一条第一位线连接,每个第二访问FET的沟道与一条第二位线连接,第一位线和第二位线连接的各存储单元中的漏电通道的占比少,使得涌入第一位线和第二位线的漏电流整体较低,甚至漏电流的增加量可忽略不计,可以降低涌入第一位线和第二位线的漏电流,降低读写错误、提高读取速度、提高可靠性。