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半导体器件、其制作方法、三维存储器及存储系统
발명알 수 없음
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§ Ⅰ
개요
IPC 분류
H10B 43/35 (2023.01)H10B 43/40 (2023.01)H10B 43/27 (2023.01)
本发明提供了一种半导体器件、其制作方法、三维存储器及存储系统,半导体器件的制作方法,包括:形成半导体结构,半导体结构包括衬底、位于衬底上的堆叠结构、贯穿堆叠结构的沟道结构,以及覆盖堆叠结构和至少部分衬底的介质层;形成环状沟槽,环状沟槽穿过介质层并延伸到衬底,且环绕堆叠结构设置;于环状沟槽的顶部向下形成沟槽扩口部;于覆盖沟道结构的介质层中形成开孔;其中,沟槽扩口部与开孔在同一刻蚀步骤中形成。通过本发明的方法,于环状沟槽的顶部向下形成沟槽扩口部,即对环状沟槽进行扩孔,有利于沟槽的填充材料的填充质量,改善含氟的气体会从填充材料的空隙中扩散出来问题,以提高器件的良率和可靠性。