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半导体结构及其制备方法
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§ Ⅰ
개요
IPC 분류
H10W 10/17 (2026.01)H10D 84/01 (2026.01)H10D 84/85 (2025.01)H10W 10/00 (2026.01)
本公开提供一种半导体结构及其制备方法,涉及半导体技术领域。该制备方法包括提供具有浅沟槽的基底;执行第一沉积工艺形成第一隔离层,第一隔离层填充浅沟槽的部分深度;执行第二沉积工艺形成第二隔离层,第二隔离层设置于第一隔离层的顶面,第二隔离层和第一隔离层构成隔离层,第二隔离层的硬度大于第一隔离层的硬度;部分隔离层的一部分,隔离层的未去除的部分用作浅沟槽隔离结构;浅沟槽隔离结构的顶面与基底的顶面平齐。本公开能够提高半导体结构的良率。
§ Ⅵ
특허 도면
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