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用于确定高度图的方法和设备

발명알 수 없음
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15청구항 · 5 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

L·雷德拉斯基

출원일

May 27, 2025

공개일

Oct 20, 2026

IPC 분류

G01B 11/25 (2006.01)

本发明涉及一种用于确定样品的样品表面高度图的方法。本发明还涉及一种用于确定样品表面高度图的方法,包括预扫描步骤和高精度扫描步骤。本发明还涉及一种配置用于确定样品表面高度图的光学轮廓测量设备。本发明还涉及一种包括计算机程序的计算机可读数据载体。

§ Ⅵ

특허 도면

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