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기록
一种晶圆抛光方法及晶圆抛光设备
발명알 수 없음
12청구항 · 3 독립항
§ Ⅰ
개요
IPC 분류
B24B 29/02 (2006.01)B24B 1/00 (2006.01)B24B 41/00 (2006.01)B24B 49/16 (2006.01)
本发明提供一种晶圆抛光方法及晶圆抛光设备,抛光方法包括:在第一抛光阶段,检测晶圆表面的反射光强的平均值,并在所述平均值低于第一阈值时进入第二抛光阶段;在第二抛光阶段,将晶圆表面划分为多个分区,以抛光盘旋转至少一圈为一个调压周期,在每一个所述调压周期内执行以下步骤:确定各分区的反射光强;将反射光强最小的一个分区确定为参考分区,其他分区为调压分区;分别计算各调压分区与参考分区的反射光强的差值;根据所述差值在预先建立的调压表中查询对应的调压记录;根据查询到的调压记录中的压力值确定该调压分区的压力调整值;根据压力调整值调节该调压分区的抛光压力。本发明能够减少晶圆表面膜层残留和形貌异常。
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