鉴定大米加工精度的方法

本发明公开了鉴定大米加工精度的方法，涉及大米加工技术领域，包括：根据米粒的背沟明场图像，确定米粒的背沟区域；依据三段式试剂序列和米粒的背沟区域，生成三段式试剂序列施加记录；依据三段式试剂序列施加记录，得到液体前沿推进序列；依据荧光图像序列的中心窄带区域和侧带区域，计算通道聚焦度；依据背沟荧光强度序列的第一平均荧光强度、第二平均荧光强度和通道聚焦度，计算膜留聚焦值；本发明能够提高大米加工精度检测的针对性和客观性。