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기록

一种二极管测试工装及测试方法

발명알 수 없음
10청구항 · 2 독립항
§ Ⅰ

개요

발명자

陈前; 孙跃威; 马玉祥; 李清范; 徐文杰

출원일

Jul 31, 2026

공개일

Oct 27, 2026

IPC 분류

G01R 31/26 (2020.01)

本发明提供了一种二极管测试工装及测试方法。该二极管测试工装包括:测试电路板;多个测试支路;二极管夹具,用于以非焊接方式夹持固定被测二极管;多路开关网络,多路开关网络分别与多个测试支路、二极管夹具电连接;控制模块,用于控制多路开关网络内部开关的通断组合,以切换被测二极管所接入的测试支路和被测二极管的偏置方向,获取被测二极管的电特性参数。本发明提供的一种二极管测试工装及测试方法,克服了传统检测需人工切换测试线路、进行焊接操作的弊端。

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