一种辐向取向永磁环磁性能检测方法及设备

本发明涉及一种辐向取向永磁环磁性能检测方法及设备，属于永磁材料测试技术领域。该方法旨在解决现有技术无法准确测量辐射辐向取向永磁环真实磁性能的问题。所述方法包括：沿辐向取向永磁环径向切取规定形状的测试样品并记录其几何与位置参数；基于样品体积内磁矩投影的体积平均计算校正系数K；测量样品的初测退磁曲线；应用K值逐点修正得到真实退磁曲线及关键磁性能指标。所述设备集成了样品夹持、磁场产生、磁性测量、控制与采集、数据处理与结果显示单元。本发明通过几何校正消除了因样品内晶粒取向不一致带来的测量值偏低的问题，兼容现有主流磁性测量设备，为辐向取向永磁环的质量控制与标准化检测提供了可靠依据。