可测试性设计验证步骤生成装置、方法及存储介质

本公开涉及集成电路设计自动化技术领域，提供了一种可测试性设计验证步骤生成装置、方法及存储介质。该装置包括处理器，处理器获取集成电路的设计数据，并从设计数据中提取芯片特征信息；根据芯片特征信息确定相匹配的原子验证步骤、原子验证步骤所属的复合步骤类别及执行顺序；根据复合步骤类别生成复合验证步骤，复合验证步骤包括与复合步骤类别对应且按照执行顺序排列的原子验证步骤；生成包含复合验证步骤的验证步骤信息。本公开能够根据当前集成电路的设计数据，自动生成与芯片设计特征相适配且按照相应执行顺序组织的验证步骤信息。