工业颗粒检测及粒径测量方法、系统、电子设备及可读介质

工业颗粒检测及粒径测量方法、系统、电子设备及可读介质，属于工业机器视觉、目标检测、特征恢复和非接触式尺寸测量技术领域。本发明通过自适应轻量预增强保证第一次检测能够获得高召回候选，通过第一次检测结果和原始稠密目标响应生成局部目标密度状态，通过候选重叠、轮廓支持和形状一致性生成可见可靠性状态，通过原始图像亮度和清晰度生成低光及模糊退化状态；再将所述状态融合为空间控制图，用于调制低光和去模糊特征恢复残差，从而形成“初始检测—显式状态计算—选择性特征恢复—再次检测—可信测量”的闭环。